水稻表型檢測系統(tǒng)可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、總粒數(shù)和千粒重以及水稻莖稈分析等指標(biāo)的測量，可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。

產(chǎn)品型號(hào)：KM-SDY

更新時(shí)間：2025-09-24

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小麥面粉大米檢測化驗(yàn)儀器

圓型驗(yàn)粉篩小麥檢測儀面筋測定儀降落數(shù)值儀面團(tuán)拉伸儀電動(dòng)篩選器谷物分析儀磁性分離板

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品牌	科銘光電	價(jià)格區(qū)間	面議
儀器種類	便攜式	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	食品/農(nóng)產(chǎn)品,農(nóng)林牧漁,綜合

水稻育種研究中，水稻表型參數(shù)至關(guān)重要，水稻表型檢測儀可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、總粒數(shù)和千粒重以及水稻莖稈分析等指標(biāo)的測量，可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。這些表型參數(shù)在水稻品種篩選、水稻產(chǎn)量預(yù)測、稻穗動(dòng)態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。軟件集合多方面功能為一體，一站式解決水稻的表型參數(shù)測量問題。廣泛適用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的水稻研究。

水稻表型檢測系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)

測量范圍和誤差：

1、水稻畝穗數(shù)測量誤差： ≤±5%

2、稻穗形態(tài)測量范圍： 5~20cm

3、水稻夾角測量范圍： 0-180°

4、作物莖粗： 0-5.2cm

誤差

穗長誤差： ±2%

夾角測量誤差： +5%

作物莖粗測量誤差： ±1mm

千粒重測量誤差： ±2%

株高測量范圍： 0.1-1.5m

水稻莖稈測量誤差：.....±5%

上一個(gè)：MJ-IIID雙頭面筋測定儀

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水稻表型檢測系統(tǒng)可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、總粒數(shù)和千粒重以及水稻莖稈分析等指標(biāo)的測量，可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。

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